Estadísticas de Síntesis y caracterización de películas delgadas de Al2O3, ZnO y NiOx para aplicaciones en dispositivos electrónicos y optoelectrónicos
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| Síntesis y caracterización de películas delgadas de Al2O3, ZnO y NiOx para aplicaciones en dispositivos electrónicos y optoelectrónicos | 4 |
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| October 2025 | 1 |
| November 2025 | 2 |
| December 2025 | 0 |
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| MXL123740.pdf | 20 |
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| Querétaro City | 1 |