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Estudio de propiedades eléctricas y micro-estructurales en películas de Ba1-x SrxTiO3

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Editor
Universidad Autónoma de Baja California, Ensenada.
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Resumen
Este estudio consiste en analizar las propiedades ferroeléctricas y microestructurales de películas delgadas de Ba1-x SrxTiO3 (BST) depositadas por el método de ablación láser, en sustratos de SiO2/c-Si y Pt/Ti/SiO2/c-Si.LAs películas son amorfas al finalizar el proceso de deposito, pero cristalizan después de un recorrido (annealing) arriba de 500 C.
Descripción
Palabras clave
Películas delgadas (Física), Físico, Tesis
Citación
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