Examinando por Autor "Herrera García, Jesús Rigoberto"

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    Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
    (Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería., 2015) Herrera García, Jesús Rigoberto; Radnev Nedev, Nicola; Curiel Álvarez, Mario Alberto
    La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr
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    Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :
    (Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería., 2011) Herrera García, Jesús Rigoberto; Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia
    La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta