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Sistema computarizado basado en analizador de dispositivos semiconductores Agilent B1500A para caracterización eléctrica de películas dieléctricas delgadas

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dc.contributor.authorArias León, Abraham
dc.contributor.directorRadnev Nedev, Nicola
dc.coverage.placeofpublicationMexicali, Baja California
dc.date.accessioned2021-05-22T04:36:47Z
dc.date.available2021-05-22T04:36:47Z
dc.date.issued2012
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Instituto de Ingeniería, Mexicali
dc.degree.grantorTesis de Maestría
dc.degree.nameMaestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería.
dc.format.extent1 recurso en línea (iii, 73 p. : il. col., gráficas)
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/2954
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería
dc.relation.urihttps://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTcFFzZUVJMzM1WFU/view?usp=sharing
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject.lccTK7871.15.F5 A75 2012
dc.subject.lembMateriales nanométricos Tesis y disertaciones académicas
dc.subject.lembCircuitos de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas
dc.titleSistema computarizado basado en analizador de dispositivos semiconductores Agilent B1500A para caracterización eléctrica de películas dieléctricas delgadas
dc.uabc.bibliographycNoteIncluye referencias bibliográficas.
dc.uabc.bilbiotecaMEXICALI
dc.uabc.identifier181605
dc.uabc.numInventarioMXL109581
dc.uabc.typeMaterialTESIS
dcterms.accessRightsopenAccess
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