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Sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia /

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Universidad Autónoma de Baja California.
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Resumen
En este trabajo se presenta el desarrollo de un sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia, este sistema puede servir para realizar prácticas escolares, para investigación o para uso comercial.
Descripción
Palabras clave
Dispositivos electrónicos Medición, Circuitos electrónicos Medición, Ingeniero en electrónica Tésis
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