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Sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia /

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dc.contributor.authorLuna Rojas, Josadac
dc.coverage.placeofpublicationEnsenada, Baja California.
dc.date.accessioned2022-11-24T03:27:48Z
dc.date.available2022-11-24T03:27:48Z
dc.date.created2005
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ingeniería, Ensenada
dc.degree.grantorTesis de Licenciatura / bachelor Thesis.
dc.degree.nameLicenciatura
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta el desarrollo de un sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia, este sistema puede servir para realizar prácticas escolares, para investigación o para uso comercial.
dc.format.extent99 p. : il.
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/10132
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.57840/uabc-714
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Autónoma de Baja California.
dc.relation.urlhttps://drive.google.com/file/d/1oCAKo8ygSOaZV09xaiAq2A9p7DPB2JTM/view?usp=sharing
dc.rightsopenAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subjectDispositivos electrónicos Medición
dc.subjectCircuitos electrónicos Medición
dc.subjectIngeniero en electrónica Tésis
dc.subject.lccTK7867 L85 2005
dc.titleSistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia /
dc.uabc.bibliographycNoteIncluye referencias bibliográficas.
dc.uabc.bilbiotecaENSENADA
dc.uabc.identifier133310
dc.uabc.numInventarioENS044483
dc.uabc.typeMaterialTESIS
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