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Optimización de equipo electrónico para la prueba de circuitos integrados de radiofrecuencia que contienen amplificadores de bajo ruido

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dc.contributor.authorEspinoza Ortiz, Alfredo
dc.contributor.codirectorCuriel Alvarez, Mario Alberto
dc.contributor.directorRadnev Nedev, Nicola
dc.coverage.placeofpublicationMexicali, Baja California
dc.date.accessioned2021-05-22T04:31:05Z
dc.date.available2021-05-22T04:31:05Z
dc.date.issued2020
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Instituto de Ingeniería, Mexicali
dc.degree.grantorTesis de Maestría
dc.degree.nameMaestría en Ciencias
dc.description.abstractPara abordar el tema de investigación relacionado a la prueba de circuitos integrados que contienen amplificadores de bajo ruido, es esencial comenzar con la historia y antecedentes de los dispositivos que se han desarrollado hasta el momento, para desp
dc.format.extentRecurso en línea, 127 p. : il. col.
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/2141
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería
dc.relation.urihttps://drive.google.com/file/d/1Fv-gQtYn-UvYdh2n8j0DxJAsM5LoKyOd/view?usp=sharing.
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectTesis y disertaciones académicas
dc.subjectDiseño y construcción
dc.subject.lccTK7874 E86 2020
dc.subject.lembCircuitos integrados
dc.titleOptimización de equipo electrónico para la prueba de circuitos integrados de radiofrecuencia que contienen amplificadores de bajo ruido
dc.uabc.bilbiotecaMEXICALI
dc.uabc.identifier239806
dc.uabc.numInventarioMXL122509
dc.uabc.typeMaterialTESIS
dcterms.accessRightsopenAccess
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