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Estudio de errores de medición en las técnicas de extracción de los parámetros de ruido en transistores de microondas

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dc.contributor.authorHernández Camiro, Rosa María Victoria
dc.contributor.directorHernández Balbuena, Daniel
dc.coverage.placeofpublicationMexicali, Baja California
dc.date.accessioned2021-05-22T04:36:58Z
dc.date.available2021-05-22T04:36:58Z
dc.date.issued2006
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ingeniería, Mexicali
dc.degree.grantorTesis de Maestría
dc.degree.nameMaestría en Ingenieria Electrónica.
dc.description.abstractUno de los parámetros que define la calidad de la información trasmitida por un sistema de comunicación es la razón señal a ruido, usualmente conocida como S/N. Esta cantidad es determinada en parte por el primer amplificador de Radio Frecuencia en el sis
dc.format.extent1 recurso en línea (65 p. : gráficas)
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/2968
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería.
dc.relation.urihttps://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTcXBuUXc2V2ljMm8/view?usp=sharing
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject.lccTK7867.5 H47 2006
dc.subject.lembRuido electrónico Tesis y disertaciones académicas
dc.subject.lembControl del ruido Modelos matemáticos Tesis y disertaciones académicas
dc.titleEstudio de errores de medición en las técnicas de extracción de los parámetros de ruido en transistores de microondas
dc.uabc.bibliographycNoteIncluye referencias bibliográficas.
dc.uabc.bilbiotecaMEXICALI
dc.uabc.identifier158034
dc.uabc.numInventarioMXL098875
dc.uabc.typeMaterialTESIS
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