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Mejora y caracterización del blindaje (shielding) para confiabilidad de dispositivos semiconductores

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dc.contributor.authorMorales Daniels, Victor Manuel
dc.contributor.directorRadnev Nedev, Nicola
dc.coverage.placeofpublicationMexicali, Baja California
dc.date.accessioned2021-05-22T04:24:26Z
dc.date.available2021-05-22T04:24:26Z
dc.date.issued2018
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Instituto de Ingeniería, Mexicali
dc.degree.grantorTesis de Doctorado
dc.degree.nameMaestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería.
dc.format.extent1 recurso en línea, 97 p. ; il. col.
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/1812
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería
dc.relation.urihttps://drive.google.com/open?id=1UzkRyezjFfWF7pPZlfipBd9PzRy4xVgS
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectTesis y disertaciones académicas
dc.subjectTesis y disertaciones académicas
dc.subject.lccTK7871.84.C6 M67 2018
dc.subject.lembSemiconductores
dc.subject.lembDiseño y construcción Circuitos electrónicos
dc.titleMejora y caracterización del blindaje (shielding) para confiabilidad de dispositivos semiconductores
dc.uabc.bibliographycNoteIncluye referencias bibliográficas.
dc.uabc.bilbiotecaMEXICALI
dc.uabc.identifier232014
dc.uabc.numInventarioMXL121590
dc.uabc.typeMaterialTESIS
dcterms.accessRightsopenAccess
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