Síntesis y caracterización de películas dieléctricas delgadas obtenidas por la técnica de erosión iónica

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dc.contributor.authorOsorio Urquizo, Esteban
dc.contributor.codirectorMateos Anzaldo, Francisco David
dc.contributor.directorCuriel Alvarez, Mario Alberto
dc.coverage.placeofpublicationMexicali, Baja California.
dc.date.accessioned2025-09-05T05:15:57Z
dc.date.available2025-09-05T05:15:57Z
dc.date.created2022
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Instituto de Ingeniería
dc.degree.grantorTesis de Maestría / master Thesis.
dc.degree.nameMaestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería
dc.description.abstractDurante la década de 1950 las películas delgadas fueron estudiadas ampliamente para su implementación en la fabricación de dispositivos electrónicos y optoelectrónicos. No fue hasta principio de la década de 1960 que Weimer propuso un dispositivo denominado transistor de película delgada (por sus siglas en inglés, TFT), basado en películas delgadas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS).
dc.format.extent77 p.
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/12554
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Autónoma de Baja California.
dc.relation.urlhttps://drive.google.com/file/d/1-RJo82_9OlWkeGmk6cneTU4mVsb3RuQw/view?usp=sharing
dc.rightsopenAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subjectPelículas delgadas||Tesis y disertaciones académicas||lemb||Películas dieléctricas ||Tesis y disertaciones académicas
dc.subject.lccTK7871.15.F5 O86 2022
dc.titleSíntesis y caracterización de películas dieléctricas delgadas obtenidas por la técnica de erosión iónica
dc.uabc.bibliographycNoteIncluye referencias bibliográficas
dc.uabc.bilbiotecaMEXICALI
dc.uabc.identifier250864
dc.uabc.numInventarioMXL123572
dc.uabc.typeMaterialTESIS
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