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Tijuana
Tesis
Tesis de Licenciatura (Tijuana)
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
Publicación:
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
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Archivos
TIJ102026.pdf
(3,93 MB)
Fecha
2013
Authors
Alcaraz Santillán, Abelardo
Título de la revista
ISSN de la revista
Título del volumen
Editor
Research Projects
Organizational Units
Journal Issue
Descripción
Abstract
Palabras clave
Citación
URI
https://hdl.handle.net/20.500.12930/5132
Colecciones
Tesis de Licenciatura (Tijuana)
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