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Tijuana
Tesis
Tesis de Licenciatura (Tijuana)
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
Publicación:
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
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Archivos
TIJ102026.pdf
(3.93 MB)
Fecha
2013
Autores
Alcaraz Santillán, Abelardo
Título de la revista
ISSN de la revista
Título del volumen
Editor
Proyectos de investigación
Unidades organizativas
Número de la revista
Resumen
Descripción
Palabras clave
Citación
URI
https://hdl.handle.net/20.500.12930/5132
Enlace al recurso
Colecciones
Tesis de Licenciatura (Tijuana)
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