Publicación:
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

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dc.contributor.authorAlcaraz Santillán, Abelardo
dc.coverage.placeofpublicationTijuana, Baja California
dc.date.accessioned2021-05-23T02:00:27Z
dc.date.available2021-05-23T02:00:27Z
dc.date.issued2013
dc.degree.deparmentUniversidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana
dc.degree.grantorTesis de Licenciatura
dc.format.extentRecurso en línea. (70 p.) : il., col.
dc.format.mimetypepdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12930/5132
dc.language.isospa
dc.relation.urihttps://drive.google.com/open?id=0B07Wz0dDs1vFMW8tVF81dWtzRzg.
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject.lccQD40 A52 2013
dc.subject.lembQuímica Tesis y disertaciones académicas
dc.subject.lembMicroscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas
dc.titleAplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
dc.uabc.bilbiotecaTIJUANA
dc.uabc.identifier197012
dc.uabc.numInventarioTIJ102026
dc.uabc.typeMaterialTESIS
dcterms.accessRightsopenAccess
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